SSL250-EVM-I15A 评估模块 EVM 是基于 MEMS 结构光模组的双目三维扫 描设计的评估方案。该 EVM 旨在缩短结构光模组三维应用的开发周期，快速评 估 MEMS 结构光模组的各参数性能。 该评估开发模块是一套完整的双目三维恢复方案，主要由两个 USB3.0 接口 的双目相机、相机控制板、结构光蓝光模组、模组控制板（串口接口）、结构 支架、电源接口、三维恢复基本算法。为使用 MEMS 结构光模组用户提供方便 快捷的开发套件。 投影模组投射特定编码的条纹图案到目标物体表面，相机同步捕捉物体表 面被调制后的光图案图像，通过算法对采集到的图像进行处理和分析，从而精 确计算出物体表面各点的三维坐标信息，最终恢复出物体的三维模型。可广泛 应用于产品检测、文物修复、模型建立、逆向建模等领域。